Nuevo sistema de medición de espesores basado en sensores confocales

Febrero 23rd, 2017 | 543
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Con el thicknessCONTROL UTS 8X02.K, Micro-Epsilon ha lanzado por primera vez un sistema de medición de espesor en forma de C basado en el principio de medición confocal. Resuelve nuevas tareas de medición en la industria del plástico que no han sido practicables utilizando los sistemas anteriores. Demuestra sus puntos fuertes sobre todo en los materiales transparentes y semi-transparentes de la tira.

HicknessCONTROL UTS 8X02.K logra medidas de alta precisión en materiales transparentes y semitransparentes tales como láminas de plástico que no se pueden guiar sobre un rollo, vidrio revestido y metales, así como metales pulidos de alto brillo en los que los sistemas de medición de espesor anteriores basados en puntos láser, Los sensores de línea láser o de corriente de Foucault están operando en sus límites. La regulación del tiempo de exposición de los sensores confocales integrados permite mediciones fiables incluso en superficies cambiantes. Los sensores confocales con opción multipunto permiten mediciones de objetos que constan de varias capas transparentes. La medición se lleva a cabo sin contacto y no tiene reacción debido al principio de medición cromática confocal que permite medir materiales confiables de manera fiable.

La calibración y el ajuste mediante herramientas optoelectrónicas se realizan antes de la entrega. El objetivo de calibración integrado permite el reajuste. Además, el sistema de medición incluye un paquete de software completo para el análisis, presentación y archivo de datos de producción supervisados. Permite diferentes modos de medición, como la medición del espesor de la vía fija en cualquier posición, la medición del perfil del espesor o varias tendencias longitudinales.